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期刊论文
SiP陶瓷芯片水汽含量控制工艺方法研究
SiP陶瓷芯片水汽含量控制工艺方法研究
来源 :遥测遥控 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hxzhou618
【摘 要】
:
结合宇航级陶瓷封装芯片的特点和水汽控制要求,对SiP陶瓷封装工艺进行了研究,分析了陶瓷封装过程中产生水汽的各个因素,优化了封装生产工艺流程,增加了预烘转运过程下厂监制,保证了转运时间的工艺过程管控,通过试验验证了管控措施的有效性。
【作 者】
:
蒋尚
刘鸿瑾
刘群
付宝玲
【机 构】
:
北京轩宇空间科技有限公司
【出 处】
:
遥测遥控
【发表日期】
:
2021年5期
【关键词】
:
SiP陶瓷封装
水汽含量
下厂监制
过程管控
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结合宇航级陶瓷封装芯片的特点和水汽控制要求,对SiP陶瓷封装工艺进行了研究,分析了陶瓷封装过程中产生水汽的各个因素,优化了封装生产工艺流程,增加了预烘转运过程下厂监制,保证了转运时间的工艺过程管控,通过试验验证了管控措施的有效性。
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