【摘 要】
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实验研究了TEMF法快速测定做碳铬铁中硅含量时其它组分对分析结果的影响。结果表明:当硅、铬含量一定时,样品中碳含量在0.02%-0.15%、磷含量在0.020%-0.040%、硫含量在0.020%-0.040%范围内变化
【机 构】
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东北大学!110006,东北大学!110006,吉林铁合金集团有限责任公司!132002
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实验研究了TEMF法快速测定做碳铬铁中硅含量时其它组分对分析结果的影响。结果表明:当硅、铬含量一定时,样品中碳含量在0.02%-0.15%、磷含量在0.020%-0.040%、硫含量在0.020%-0.040%范围内变化对硅含量的测试值无影响;当硅、碳,磷及硫含量一定时,铬含量在50%-77%范围内变化对硅的测试值亦无影响。
The influence of other components on the analysis results of TEMF method for rapid determination of silicon content in carbon ferrochrome was experimentally studied. The results show that when the content of silicon and chromium is constant, the content of carbon in the sample is 0.02% -0.15%, the content of phosphorus is 0.020% -0.040%, the content of sulfur is in the range of 0.020% -0.040 The changes within the range of% have no effect on the test value of silicon content. When the content of silicon, carbon, phosphorus and sulfur is constant, the change of chromium content within the range of 50% -77% has no effect on the test value of silicon.
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