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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种高分辨、高灵敏的表面分析技术,可以实现对样品免标记、多组分、原位近无损的质谱成像分析.凭借出色的空间成像和化学分析能力,TOF-SIMS在法庭科学领域研究中被广泛应用.该技术在指纹、朱墨文件、微量物证的分析检验中发挥出独特的优势.一方面,TOF-SIMS能够同时获取物证的形态、组分信息,充分挖掘检材被忽略的证据价值;另一方面,因具备原位近无损的分析特点,可以作为常规检测方法的有力补充.除了针对上述优势开展的工作,探索基于创新分析方法、基质辅助增强等手段提升TOF-SIMS的物证溯源能力,进一步推动了该技术在法庭科学、公共安全领域中的应用.