【摘 要】
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日本欧姆龙公司不久前推出 Z4M—N30V 型正反射式激光位移测定仪。该仪器是利用半导体激光器来测量物体(从镜面物体到漫射物体)微小位移量的产品。它可用于测定加工、组装时
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日本欧姆龙公司不久前推出 Z4M—N30V 型正反射式激光位移测定仪。该仪器是利用半导体激光器来测量物体(从镜面物体到漫射物体)微小位移量的产品。它可用于测定加工、组装时的位置和检验加工零件的尺寸。较之同样用途的 LED(发光二极管)光源式和超声波式位移仪有更高的测量精度。以前,欧姆龙的激光位移测定仪采用漫、反射方式,所以无法进行镜面体的测定。而新产品则采用同感光元件组成最佳配置,采用欧姆龙自己的正反射光学系统技术和数字信号技术等,
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