硅粒子探测器自动中测系统

来源 :核电子学与探测技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhaodashu
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本文介绍了一种适合硅粒了探测器的自动中测系统,可同时测量16个样品,全部由微机控制,数据存放在微机中,可以给出了统计数据,也可绘出特性曲线,从而大大提高了测试效率与质量,目前用于测量硅粒子探测器反向I-V曲线,实验表明,本装置测得的数据是可靠的,并大大提高了效率。
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