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六十年代初发现H<sub>2</sub><sup>+</sup>和H<sup>+</sup>在薄膜中的能损有差异。它反应了分子离子和原子离子在碰撞过程中有不同的规律。由于在薄膜中快粒子的入射和出射能量差值很小,透射能谱有一定的展宽,这给直接测量决定能损带来困难。本工作利用高分辨库能爆炸技术(能量分辨率为1.8×10<sup>-4</sup>FWHM)直接测量了H<sub>2</sub