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常温下测量了Cd0.8Mn0.2Te晶片和多个掺In浓度不同的Cd0.8Mn0.2Te(以下简称Cd0.8Mn0.2Te:In)晶片的法拉第旋转谱和吸收边附近的透射光谱。结果表明,随着入射光子能量的增大,Cd0.8Mn0.2Te和Cd0.8Mn0.2Te:In的Verdet常数随之增大。掺In晶片的Verdet常数的变化与掺杂浓度有关:当光子能量在1.63~1.72eV范围内逐渐增加时,未掺In的测量值的变化范围是710~1820(°)/cm·T;当In浓度为8.96×10^