应用电子探针原位微区分析技术测试硅硼钠石矿物

来源 :电子显微学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sz_davild
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测试样品中的硅硼钠石矿物除了具有规则的晶体形态外,还有一种无定形类别。二者光学特征差异大,定性分析如薄片鉴定、扫描电镜(SEM)等方法在形貌上的识别难以可靠地确定它们是否同为硅硼钠石矿物。本文应用电子探针原位微区分析(EPMA)技术,针对微区进行成分分析,精确测试了该矿物。EPMA具体包括背散射电子图像(BSEI)分析技术与元素定量分析技术两种主要类型,是定性与定量分析技术的结合。测试硅硼钠石矿物要面对的主要挑战有两点:(1)硼(B)元素处于EPMA检测下限,而且无氧化物标样;(2)钠(Na)元素易迁移。
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