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用能谱仪测量特征X射线，从而导出元素钛和钒的K壳层电离截面。为克服制靶困难，实验中采用薄靶厚衬底方法。通过电子输运计算，由厚衬底产生的反射电子对计数的影响得以修正。将结果和Green等的半经验公式以及Jessenberger等的测量数据进行了比较。
用薄靶厚衬底方法测量电子碰撞引起的K壳层电离截面
【摘 要】
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用能谱仪测量特征X射线，从而导出元素钛和钒的K壳层电离截面。为克服制靶困难，实验中采用薄靶厚衬底方法。通过电子输运计算，由厚衬底产生的反射电子对计数的影响得以修正。将结
【机 构】
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四川大学原子核科学技术研究所,四川大学原子核科学技术研究所
【出 处】
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原子能科学技术
【发表日期】
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2001年2期
【基金项目】
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教育部科学技术基金
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