TPC—I3^—体系间接光度法测量痕量Se(Ⅳ)

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提出了表面活性剂TPC存在下I3^-间接光度法测定痕量硒方法。方法灵敏度高(ε=1.14×10^6),除铁外其它离子基本无干扰,选择性好,测定含Se(Ⅳ)2.0μg样品10次,RSD=3.9%,精密度理想,适于生物样品及产中Se(Ⅳ)测定,结果令人满意。
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