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太阳电池的钝化层直接影响太阳电池的性能,钝化层界面上固定电荷密度和缺陷密度是分析其钝化效果的关键参数.本文通过建立MOS模型来模拟钝化层的电容-电压（C-V）特性曲线,并使用函数表达模拟曲线,建立基于函数的数据库,将实验获取的C-V曲线与数据库进行比对找出实验数据对应函数,提取出钝化参数Nf和Dit,并以此分析钝化层的钝化效果.