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以镍基单晶高温合金AM3为研究对象,介绍一种X射线衍射法测量单晶体取向的原理。该方法采用X射线θ扫描与试样自转相结合,使晶面法线多次通过衍射面来获得晶体晶面与试样外表面的夹角关系。通过实例计算与实验结果相比较验证了该方法的可靠性,说明高温合金单晶取向性及判定的方法。该方法操作简单、结果精确,是确定单晶高温合金取向的有效途径。