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超深亚微米工艺下,串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题.本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成算法.该算法以临界通路上的串扰时延故障为目标故障进行测试产生,大大提高了算法的效率.实验表明,以该算法实现的系统可以在一个可接受的时间内,对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生.