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介绍了一种简单而有效的天平方法来检测高量程微机械加速度传感器芯片的静态特性。设计了和种新结构，上面带有压敏电阻，用该方法测量到的静态特性和理论结果比较，两者基本一致，芯片的静态输出特性在测量限20000g(g为重力加速度）内呈直线，非线性为1%左右，合于平板型高量程压阻式加速度传感器芯片封装前进行抽样检测。