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基于热像仪电路开发环境的单片机功能测试技术研究
基于热像仪电路开发环境的单片机功能测试技术研究
来源 :云光技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hejunfeng206
【摘 要】
:
根据热像仪对C8051F系列单片机的功能应用需求,基于电路开发环境开展了单片机功能测试技术研究。以热像仪用单片机的电路开发环境为基础设计测试硬件电路,通过软件编程控制单片
【作 者】
:
孙娟
梁坚
何浚
郑文云
【机 构】
:
昆明北方红外技术股份有限公司
【出 处】
:
云光技术
【发表日期】
:
2015年2期
【关键词】
:
热像仪
单片机
功能测试
元器件质量控制
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根据热像仪对C8051F系列单片机的功能应用需求,基于电路开发环境开展了单片机功能测试技术研究。以热像仪用单片机的电路开发环境为基础设计测试硬件电路,通过软件编程控制单片机完成各种功能,根据测试结果判断单片机功能的正确性,实现了C8051F系列单片机的功能检测。
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