基于Polytec激光测振仪的光存储设备振动测试分析系统

来源 :2008中国兵工光学与光电子学学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:liuwennengqqqqqq
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针对光存储没备振动频率高的特点,采用Polytec激光测振仪拾取振动信号,并给出了基于Polytec激光测振仪的光存储设备振动测试分析系统.可用于硬盘盘片、磁头滑块、折臂组件、光盘盘片等振动测试,为光存储设备动态特性的测试和分析建立了良好的实验基础.
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