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建立了一种高精度波片相延迟量的测量装置，它以磁光调制式１／４波片法为基础，其测量精度优于ＫＤ＊Ｐ电光调制检测法。本文介绍了磁光调制器的设计，总结了磁光调制方法的最优解调特性，提出了测量装置的结构，其中强调了磁光调 器必须放置在标准１／４波惩之后以满足最优解调特性，误差分析表明，环境温度和机械安装是影响测量精度的重要因素。实验对同一批波长进行了长时间多次重新安装测量，其复现精度优于２０。