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本文介绍评价 SBIR CCD 焦平面阵列应考虑的问题,几个主要参数的测试方法,建立完整的评价系统的设想。
SBIR CCD参数测试技术的研究
【摘 要】
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本文介绍评价 SBIR CCD 焦平面阵列应考虑的问题,几个主要参数的测试方法,建立完整的评价系统的设想。
【机 构】
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重庆光电技术研究所
【出 处】
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光电子技术
【发表日期】
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1991年4期
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