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产品在不同阶段的技术状态是有差异的，因此在可靠性评估时不能视为同一母体，其试验数据也不能做简单的累加处理。由于试验次数较少，在进行可靠性评估时，评估值往往低于应达到的实际值。本文将各阶段的可靠性作为一个整体来研究，建立了可靠性增长评估的数学模型，导出了成败型可靠性评估方程，给出了评估方法，该方法充分利用各研制的试验信息，反映了研制产品的可靠性增长过程，为多研制阶段、变母体、试验数据较少的产品可靠性验证，提供了有效的评估途径，同时以产品数据为例计算了应达到的实际可靠性水平，计算结果表明，评估结果与产品应达到