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以乌洛托品为络合剂，采用电化学沉积法成功地制备出La掺杂ZnO薄膜。通过对样品的XRD表征，得出生长的样品为ZnO纤锌矿结构，（002）衍射峰随掺杂La^3＋浓度的增加而向更小角度方向移动，表明少量La抖掺杂进入了ZnO点阵结构中。EDS测量结果显示，La^3＋以替代的形式进入ZnO晶格中，掺入量为2．40%（原子分数）左右。由XPS测量结果可知，镧离子在薄膜中以＋3价的形式存在，PL测量结果进一步证明了La^3＋能够取代ZnO晶格中Zn^2＋的格位。