目的评估用壳聚糖修饰的纳米羟基磷灰石(HA)基因载体结合和保护DNA的性能。方法 HA纳米颗粒胶体液中加入壳聚糖弱酸溶液,以修饰HA纳米颗粒;透射电镜下观察壳聚糖修饰后HA纳米颗粒的形貌及粒径;在不同pH值环境下(5、6、7、8和9)测定修饰前后的HA纳米颗粒的Zeta电位;采用离心后测上清DNA浓度检测未修饰的HA纳米颗粒和经壳聚糖修饰后的HA纳米颗粒结合DNA的能力及壳聚糖-HA纳米颗粒与DNA解离的方式;应用DNA抗核酸酶保护实验测定修饰后的HA纳米颗粒保护DNA的能力。结果透射电镜观察经壳聚糖修饰的HA纳米颗粒周围有长梭状的壳聚糖颗粒包绕,粒径较均匀,约为50 nm,分散性较好;经过壳聚糖修饰的HA纳米颗粒较未修饰的HA纳米颗粒的Zeta电位显著升高(P<0.05)。血清、磷酸缓冲液(PBS)可以使结合到壳聚糖-HA纳米上的DNA解离。DNA结合及抗核酸酶保护实验显示,修饰后的HA纳米和DNA质量比达500∶1时,可更有效结合并保护DNA。结论经过壳聚糖修饰的HA基因载体分散性更好,Zeta电位显著提高,更有效地结合和保护DNA。