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本文报道采用ＩＲＩＳ（ＣＩＤ）全谱等离子体光谱仪，同时测定高分子聚合物ＰＤＸＬ研制过程产物中硫和钠的含量。
IRIS（CID）—ICP—AES法同时测定聚合物PDXL过程产物中的硫和钠
【摘 要】
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本文报道采用ＩＲＩＳ（ＣＩＤ）全谱等离子体光谱仪，同时测定高分子聚合物ＰＤＸＬ研制过程产物中硫和钠的含量。
【机 构】
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上海交通大学分析测试中心
【出 处】
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光谱实验室
【发表日期】
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2000年4期
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