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利用原子力显微镜（AFM）研究了施加恒定外电场时，AFM针尖与云母表面间的摩擦力变化情况．结果表明，对样品基底施加一定偏压后，由于针尖与云母表面间的静电作用增强，使得针尖与样品间的总相互作用势增加，从而导致针尖与云母间的摩擦力比未施加偏压时大，且摩擦力大小随电压升高而增大．尤其是施加负偏压时，摩擦力增加更为显著，且大于正偏压时的摩擦力．