论文部分内容阅读
基于单一参考测量法的测量原理，研制了一套测量温度最高可达500℃的多光谱双向反射分布函数测量系统。光源采用从可见光的0．6328μm到中远红外的10．6μm波长的激光器，针对不同波长的激光器选择相应的光电探测器，利用转角装置来实现光源、探测器和试样相对位置的变化，通过加热炉对试样进行加热，采用模糊PID控制器进行温度的控制，控制精度为±1℃。在可见光和红外波段下，利用标准白板对测量系统进行实验误差标定，通过对实验数据进行分析，测量误差小于15％。该装置可应用于不同温度下材料表面空间反射特性的测量