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随着集成电路（IC）技术的不断发展，尤其在90nm和65nm技术节点，集成电路制造业的投资剧增而随机成品率却在下降。为了提升随机成品率，需要在布线或后布线阶段减小关键面积。文中提出一种基于线性规划降低关键面积的方法，使关键面积在一组条件约束下，通过版图中一些特征量的变化，建立起一个线性规划模型，然后求其最优解，进而得出关键面积的最小值。该方法的优点是把一个版图优化问题转化为数学问题，使问题更精确化，从而为成品率的优化提供了一条新途径。