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本文利用高分辨磁力显微技术对Ni80Fe20薄膜单元进行了直接观察，发现在双圆盘“花生形”单元中存在磁涡旋结构，并能够清晰地看到单元中心附近或亮或暗的涡旋核。实验结果表明，在包括针尖卷积效应的情况下，磁涡旋核中心轮廓线的直接测量宽度约为40nm，这个分辨率远高于迄今为止报道的关于磁涡旋结构的MFM测量结果。