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利用在金刚石压砧上集成的微电路，原位测量了CdSe多晶粉末在温度为300～450K、压力达到23 GPa时电阻率随温度和压力的变化关系。实验结果表明：在加压过程中，电阻率在2．6G Pa压力时出现的异常改变，对应着CdSe从纤锌矿向岩盐矿结构的转变，而在6．0、9．8、17．0 GPa等压力处出现的电阻率异常，则是由CdSe中的电子结构的变化所引起的；在卸压过程中，只在约14．0和3．0GPa压力下观察到了两个电阻率异常点。通过对电阻率随压力变化曲线的模拟，得出了CdSe高压相的带隙随压力的变化关系，据此