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在测量单层或多层磁光记录薄膜的居里温度时，为了达到有目的测量和提高测量的效率，采用了在快速升温过程中（<5min），在感兴趣的温度范围里观察被测薄膜Ms～T曲线变化的全过程；然后，初步判断薄膜的居里温度可能在哪个温度区域里，决定是否需要精确测量；最后，若决定测量，选择居里温度附近的一段温室区域里利用降温过程测量。整个测量过程比采用逐步升温、并在每个恒定的温度上读取饱和磁化强度Ms的方法节省大量的时间。只要选择一类响应时间快的热电偶，可以达到与逐步升温方法同样的测量精度。