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弥漫性轴索损伤（diffuse axonal injury,DAI）是创伤性颅脑损伤（traumatic brain injury,TBI）中的一种特殊亚型,过去认为其是导致外伤患者严重致死致残或植物存活的主要原因[1]。但随着对其研究的深入,特别是超高场（3T）磁共振成像新技术包括结构成像技术[如磁敏感加权成像（susceptibilityweighted imaging,SWI）、磁共振弥散张量成像（diffusion tensor imaging,DTI）及纤维束示踪成像技术（fiber tract