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系统倾转样品是透射电子显微镜操作的一种重要实验技术.本文介绍了不依赖菊池花样实现系统倾转样品的方法,并采用该技术,发展了不依赖菊池花样精确测定电子束方向B和重位点阵特征参数l/θ的两种方法.
系统倾转技术在TEM中的新应用
【摘 要】
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系统倾转样品是透射电子显微镜操作的一种重要实验技术.本文介绍了不依赖菊池花样实现系统倾转样品的方法,并采用该技术,发展了不依赖菊池花样精确测定电子束方向B和重位点阵
【机 构】
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上海交通大学国家教委高温材料及高温测试开放实验室,上海,200030;
【出 处】
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黑龙江科技学院学报
【发表日期】
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2004年期
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