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提出了一种在光谱定性半定量的前提下,选择最佳工作参数,用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)直接测定纳米氧化钇中杂质含量的方法,为纳米稀土粉末材料的定量分析提供了科学依据,方法简便快速.
电感耦合等离子体发射光谱法直接测定纳米Y2O3中的杂质含量
【摘 要】
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提出了一种在光谱定性半定量的前提下,选择最佳工作参数,用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)直接测定纳米氧化钇中杂质含量的方法,为纳米稀土粉末材料的定量分析提供了科
【机 构】
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暨南大学物理系,国家农业标准化监测与研究中心
【出 处】
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现代科学仪器
【发表日期】
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2004年3期
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