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新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）作为新生儿的多发病之一,易出现语言运动障碍、智力落后、癲痫甚至是脑性瘫痪等后遗症,不仅影响患儿的生活质量,还对家庭、社会造成严重的影响。因此,HIE的早期、精准诊断对治疗方案的选择和预后评估具有重要的现实意义。目前,扩散峰度成像（DKI）技术是唯一通过非侵袭性手段探测活体组织微观信息的磁共振技术,国内外公认DKI技术在诊断和评估新生儿HIE方面彰显出无可比拟的优势。