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为提高X射线衍射(XRD)分析应用教学水平,该文设计了一个XRD综合性分析实验。以立方晶体Cu和Cr的XRD图为例,数学推导其布拉菲点阵、晶面指数、晶格参数。以TiO2的XRD图为例,用Jade软件分析其物相组成。用K值法、峰形拟合和Rietveld全谱拟合法对样品进行了物相定量分析。结果表明:相比于峰形拟合法,Rietveld全谱拟合法具有不依赖于RIR值的优点,晶体模型一致而RIR值不同的物相组成的定量分析结果相一致,并能方便获取精确的晶胞参数值。数学推导晶体结构及物相定量计算、软件进行物相定性以及在