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采用ＦＦＴ方法对光调制直接重写磁光双层耦合膜的磁基本特性进行解耦，得到各单层薄膜在耦合状态下的特性，并用于分析计算磁光双层耦合膜之间的层间耦合能σω。
光调制直接重写磁光双层耦合膜磁基本特性的一种解耦方法
【摘 要】
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采用ＦＦＴ方法对光调制直接重写磁光双层耦合膜的磁基本特性进行解耦，得到各单层薄膜在耦合状态下的特性，并用于分析计算磁光双层耦合膜之间的层间耦合能σω。
【机 构】
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华中理工大学电子科学与技术系,430074
【出 处】
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磁记录材料
【发表日期】
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1999年3期
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