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1．GB/T 1772—1979电子元器件失效率试验方法Determination of failure rate of electronic elements and components。
“电子元件”相关标准（一）
【摘 要】
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1．GB/T 1772—1979电子元器件失效率试验方法Determination of failure rate of electronic elements and components。
【出 处】
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电子产品可靠性与环境试验
【发表日期】
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2005年3期
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