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在此提出了一种RFID电子标签天线瑕疵逐片高速检测方法。该方法对工业相机拍摄的RFID天线图像进行模板图像与目标图像的对齐,利用图像差分输出两者的残余图像,通过对残余图像进行连通域分析实现对天线图像的高精度瑕疵检测。本检测方法的精度可达2×2 pixels,并已成功应用到RFID天线检测设备上,天线瑕疵尺寸检测精度可达0.2 mm×0.2 mm。