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目的：应用基于高分辨MRI结构成像（sMRI）、表面基础形态测量学（sBM）的皮层测量方法，分析幼儿148个脑区的皮层厚度（CT）、皮层表面积（sA）及平均曲率（AV）等参数，探讨皮层厚度等皮层形态学参数与幼儿智力发育水平的相关性。方法：对13例健康幼儿受试者进行智力发育水平评分。采用Siemens3．0TMR机对所有纳入对象进行高分辨率的3DT。脑结构图像采集。使用基于SBM的方法获取每个被试者148个脑区的CT、SA、AV等参数，逐一对每个脑区皮层参数与幼儿智力发育水平评分进行相关性分析。结果：对受试