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为了实现对亚表面下细小缺陷的检测，采用了法拉第磁光效应和电涡流效应相结合的方法。用间歇式脉冲信号去激励线圈，使靠近该线圈的受检金属试件中产生涡流效应，磁光薄膜在该涡流磁场的作用下产生磁光效应，使经过的线偏振光的偏振方向发生偏转，包含了缺陷信息的光线经偏振分光镜反射后可以被CCD接收，从而就可以检测到亚表面下细小缺陷。试验结果表明，磁光涡流显微成像方法是一种现实、可行的无损检测方法。