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在TFT的制程中会造成许多不可避免的工艺缺陷,需要逐个判断其对TFT电路所造成的影响,这种缺陷检查方式需要大量人力且速度慢、精度低,因此,将人工识别替换成计算机自动化识别就显得尤为重要。自动识别中的一个关键部分就是将TFT电路进行定位。针对因缺陷颜色、形状、位置、大小不固定等原因导致现有图像处理算法无法准确定位出TFT电路位置的问题,本文提出基于自相关性和模版匹配的TFT电路图像重构算法。首先,对全自动光学检测(AOI)相机采集的缺陷图片进行区域提取,估算出偏角并校正图像;根据边缘图像的灰度垂直响应