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根据C60晶体中38°和98°两种取向排列和分子在晶体中均匀分布的结构稳定性规律,利用已报道的C60晶体在有序相两端点温度85K和260K取向分布的实验结果,得到了两种分子取向随温度的分布规律.当38°取向排列的分子概率为分数值1/4和1/3时,C60晶体将具有较大的结构稳定性和较小的介电损耗值,对应的温度分别为122.6k和194.3k.介电损耗实验中出现异常的现象可由此解释为38°取向分子均匀分布的"规则--无规--规则"变化所造成.