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本文研究建立ICP—AES测定SiO：标准物质中杂质元素含量的方法。钛、钙、镁、钠、铁、钴、铝、铜、锰、铅、铬、镍的质量浓度分别在0．1～1．5，0．05～1．0，0．05～1．0，O．05～1．0，0．05—2．0，0．1～1．0，0．05～2．5，0．1～1．0．0．1～1．0，0．1～1．0，0．05～1．0，0．05～1．Omg·L-1范围内与其光谱强度线性相关，相关系数均大于0．999；方法检出限分别为0．005，0．05，0．015，0．2，0．05，0．05，0．15，0．015，