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45和32nm面临新的刻蚀挑战
45和32nm面临新的刻蚀挑战
来源 :集成电路应用 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hhttllzz
【摘 要】
:
在45和32nm节点.对刻蚀而言,传统的挑战如对轮廓的严格控制、选择性、CD,均匀性和缺陷将伴随着新材料的使用,光刻的限制,新的器件结构和集成方案的引入将变得更加严峻。
【作 者】
:
Peter
Singer(编)
【机 构】
:
《集成电路应用》主编
【出 处】
:
集成电路应用
【发表日期】
:
2007年4期
【关键词】
:
刻蚀
集成方案
器件结构
新材料
均匀性
节点
控制
轮廓
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在45和32nm节点.对刻蚀而言,传统的挑战如对轮廓的严格控制、选择性、CD,均匀性和缺陷将伴随着新材料的使用,光刻的限制,新的器件结构和集成方案的引入将变得更加严峻。
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