论文部分内容阅读
为了能利用半导体材料ZnO对光谱曲线随温度变化而移动的原理设计一种光纤温度传感器，因此有必要对生长在光纤端面上的ZnO材料的温变特性的进行研究。基于ZnO材料的测温原理，利用电子束蒸发技术在蓝宝石光纤端面上生长ZnO薄膜，并设计了一种具有低插入损耗的光纤检测系统用于光学性能的分析。光谱测试结果显示，蒸镀在蓝宝石光纤端面上的ZnO薄膜具有陡峭的光学吸收边，随着温度的升高（室温-450℃），ZnO薄膜的禁带宽度减小，吸收边向长波长方向移动，符合半导体材料的温变特性。同时随着温度的升高，平均的透射率有一定的减小