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为了在有限的经费和试验周期内,考核某长寿命、高可靠性微波电子产品长期贮存寿命与可靠性,利用可靠性分析手段,确定产品的薄弱环节和敏感应力。通过可靠性强化试验（RET）寻找产品的应力极限并分析产品性能指标的变化。试验结果表明,RET不仅可用于确定加速寿命试验（ALT）（退化）试验的安全加速范围,还可为加速退化试验（ADT）选择关键性能指标,从而提供了一种具有安全加速范围的加速试验方法。