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随着工业生产和半导体技术的快速发展,基于嵌入式平台的数字图像处理在工业检测上的应用越来越广泛。但是工业生产中的恶劣环境往往给机器视觉检测带来一定的困扰。为了提高工业检测的准确率,基于Gamma校正理论提出了一种改进的自适应图像增强算法,并在嵌入式平台AM5728实现该算法。首先基于光照-反射模型理论,采用引导滤波算法估计原始图像的光照信息,然后结合图像的光照信息和图像自身亮度信息构造出一种改进的Gamma矫正函数,能够实现对不同光照条件下采集到的图像进行自适应增强处理。并且考虑到嵌入式平台在工业检测