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本文叙述了使用X射线荧光光谱法的NRLXRF和FLY-FPM程序分析中厚、可变厚度的镀层组分情况,并对二程序于使用单标及纯金属厚样标准时,在实际应用中的适应性进行了比较。
X射线荧光光谱法在非晶镀层组分分析中的应用
【摘 要】
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本文叙述了使用X射线荧光光谱法的NRLXRF和FLY-FPM程序分析中厚、可变厚度的镀层组分情况,并对二程序于使用单标及纯金属厚样标准时,在实际应用中的适应性进行了比较。
【机 构】
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上海钢铁研究所
【出 处】
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上海金属
【发表日期】
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1992年5期
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