电路中的ESD保护

来源 :仪器仪表学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：YWJJK

【摘要】

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静电放电(ESD)常常是导致设备损坏的根源之一.本文详细阐述ESD的来源、造成的危害以及讨论如何测试集成电路的防静电冲击能力,并提供一些抗ESD冲击的应用技术.

【作者】

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【机构】

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上海理工大学光学与电子信息工程学院

【出处】

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仪器仪表学报

【发表日期】

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2006年z3期

【关键词】

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