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为阐明中药材道地性的客观规律，建立相应的评估指标系统，本文选择常用中药材－山药样品，应用X射线粉末衍射分析法进行全谱分析，获得可用于药材衍射图形的几何拓扑规律与全谱特征标记峰，由此观察到：2个不同产地山样药品的相似性及与伪劣品的区别。本文结果预示着这一方法在揭示中药材道地性客观规律方面具有广阔的应用前景。