经合组织评工业发达国家的经济情况及其发展前景

来源 :世界经济译丛 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ymlazy63
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
经合组织秘书处公布了关于1993—1994年工业发达国家经济情况及其发展前景的例行述评。经合组织主要国家的经济增长率1993年仍将不高。就经合组织所有国家来说,1993年该指标将为1.9%(1992年为1.5%),而1994年则将为2.9%;其中,经合组织欧洲国家国内生产总值的增长率,与上一年比较,1993年将为1.2%,1994年将为2.5%。美国的复苏将会最明显;其国内生产总值增长率1993年将为2.4%,1994年将为3.1%(1992年为1.8%)。而在日本和德国,1993年和1994年则将呈现长期“喘息”的征兆。这些 The OECD Secretariat has released a regular commentary on the economic situation of developed countries in 1993-1994 and their prospects for development. The economic growth rate of major OECD countries will remain low in 1993. For all OECD countries, the indicator will be 1.9% in 1993 (1.5% in 1992), compared with 2.9% in 1994; of which, the growth rate of OECD European countries’ GDP is related to The previous year will be 1.2% in 1993 and 2.5% in 1994. The recovery in the United States will be most pronounced. Its gross domestic product will grow at a rate of 2.4% in 1993 and 3.1% in 1994 (1.8% in 1992). In Japan and Germany, there will be long-term “wheezy” signs in 1993 and 1994. These ones
其他文献
“华邮第一古封”是一个“福利封”。这是集邮家们都知道的。为什么这些实寄封通称“福利封”呢?因为收信者是上海福利公司。120多年前这家公司是干什么的,现在说法不一:有
我厂生产的电话机接线头(见图1)几何形状虽不复杂但是件小,数量大,如按落料后再分别压凸、打弯的加工工艺,工作效率很低,且质量不能保证。1977年我们试制成功了一付落料压凸
食堂售饭管理系统发展到现在,可谓百花齐放,各放异彩。作为售饭管理系统的关键部件就餐卡,生产厂家较多,品种也多,如磁卡、IC 卡、光电卡、射频卡等。各种就餐卡良莠不一,使
1 适用范围本标准是对主要用于电子设备的印制线路扳(以下称印制板)的试验方法作出规定。备注 1.本标准中的印制板是单面、双面及多层印制板,与其制造方法无关。而挠性印制
本文通过统计《华中师范大学学报》多年的发文状况,对比专家审稿意见、引用因子及其他一些评价因素等,总结出被引用或被转载较多的论文的共同特征,以期为相关期刊研究人员提
离退休干部工作是党的组织工作、干部工作的重要组成部分,是社会主义和谐社会建设的一个重要方面。近年来,湖北省审计厅离退休干部处(简称“老干处”)全体同志用“感情、真情
1988年,国务院召开了第一次全国民族团结进步表彰大会,表彰了1166个民族团结进步模范,其中先进集体565个,先进个人601名;1994年,第二次全国民族团结进步表彰大会,表彰了1256
本文分析了在一个开放的简单三能级系统中的无粒子数反转激光的瞬态性质 ,研究了这个系统从瞬态无粒子数反转激光到定态无粒子数反转激光的演化。从原子相干和布居数分布的时
Optoelectronic smart pixels with hybrid integration of GaAs/AlGaAs multiple quantum well (MQW) detectors and modulators arrays have beed made,which are flip|ch
报道了在水平、常压MOVPE实验型生产装置中 ,采用互扩散多层工艺 (IMP) ,用金属有机化合物DMCd、DiPTe和元素Hg ,在CdTe和GaAs衬底上生长的HgCdTe薄膜 ,其组分和薄膜厚度的均