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简要叙述了CMOS工艺计算机总剂量辐射效应和计算机芯片总剂量辐射效应评估模型的建立，提出了一种计算机系统生存能力抗辐射评估的基本概念，给出了有关数据的收集与参量定义方法，以及计算机系统在核辐射环境下生存概率计算的结构函数模型。根据系统模型提出了如何由系统组成单元的数据求得系统的生存概率的理论方法，给出了一个具体实例的评估计算结果。该评估方法可以应用到实际武器计算机系统辐射效应评估中，也可以应用到其他种类的辐射效应评估工作。